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更新時間：2014-01-21 
瀏覽次數：14651、非接觸式測量，用光纖探頭接收反射光，不會被破壞和污染薄膜；
2、薄膜測厚儀測量速度快，測量時間為秒的量級；
3、可用來測薄膜厚度，也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k；
4、薄膜測厚儀可測單層薄膜，還可測多層膜系；
5、薄膜測厚儀可廣泛應用于各種介質，半導體，液晶等透明或半透明薄膜材料；
6、軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數，可供用戶參考。
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